晶片表面有油污,很難以檢測到,即便用KLA也難以判斷,這主要是有檢測原理決定的。有污染的晶片若被應用的外延,就會嚴重影響到LED的品質,使成品率下降。所以,如果要排除污染,就必須有一個專業的設備進行探測與判斷。
合能陽光提供SQM-500W表面質量檢測系統用于對樣品表面清潔質量進行檢測與分析。
SQM系列產品的重大突破是首次提供表面清潔度的定量分析。可以對各種表面上的污染進行非接觸無損傷的快速準確的測量。結果能夠為優化表面清潔工藝提供真實可靠的分析,為產品品質提供有力可信的保證,是公司利潤和信譽提供必不可少的保障。